便捷式EL測試儀檢測光伏組件常見的缺陷有哪些

EL測試儀是光伏應(yīng)用光伏行業(yè)，如光伏組件的缺陷檢測、太陽能電池片內(nèi)部缺陷檢測、硅片隱裂檢測等。在光伏組件、光伏電站中采用便攜式的 ，可以適應(yīng)不同環(huán)境、不同場所的應(yīng)用，方便其對光伏組件產(chǎn)生的內(nèi)部缺陷進(jìn)行快速識別判斷。萊克斯今天帶大家了解下檢測出的缺陷有哪些？

1. 斷柵

電池片的斷柵主要是由于電池片本身柵線印刷不良或電池片不規(guī)范焊接造成的。從EL測試圖中表現(xiàn)為沿電池片主柵線的暗線，這是因?yàn)殡姵仄母睎啪€斷掉 后，EL測試過程中從電池片主柵線上注入的電流在斷柵附近處的電流密度很小甚至沒有，從而導(dǎo)致電池片的斷柵處發(fā)光強(qiáng)度較弱或不發(fā)光。

2.破片

組件中的破片多出現(xiàn)在組件封裝過程的焊接和層壓工序，在EL測試圖中表現(xiàn)為電池片中有黑塊，因?yàn)殡姵仄屏押笤陔姵仄屏巡糠譀]有電流注入，從而導(dǎo)致該部分在EL測試中不發(fā)光。

3.隱裂

晶 體硅太陽電池所采用的硅材料本身易碎，因此在電池片生產(chǎn)和組件封裝過程中很容易產(chǎn)生裂片。裂片分兩種一種是顯裂，另一種是隱裂。顯裂是肉眼可以直接看到 的，在組件生產(chǎn)過程中的分選工序就可以剔除；而隱裂是肉眼無法直接看到的，并且在組件的制作過程中更容易產(chǎn)生破片等問題。由于單晶硅的解離面具有一定的規(guī) 則，通過EL測試圖可以清晰地看到單晶硅電池片的隱裂紋一般是沿著電池片對角線方向的“x”狀圖形；多晶硅電池片由于晶界的影響有時很難區(qū)分是多晶硅的晶 界還是電池片中的隱裂紋。

4.電池片電阻不均勻

EL測試單個電池片表面發(fā)光強(qiáng)度不均勻，這是由于電池片電阻不均勻造成的, 較暗區(qū)域一般串聯(lián)電阻較大。這種缺陷也能反應(yīng)電池片少子壽命的分布狀況，缺陷部位少子躍遷機(jī)率降低，在EL測試過程中表現(xiàn)為發(fā)光強(qiáng)度較弱

5.黑芯片

黑芯片在EL測試圖中我們可以清晰的看到從電池片中心到邊緣逐漸變亮的同心圓，它們產(chǎn)生于硅材料生產(chǎn)階段，與硅棒制作過程中氧的溶解度和分凝系數(shù)大 有關(guān)系。此種材料缺陷勢必導(dǎo)致晶體硅電池片的少數(shù)載流子濃度降低，從而導(dǎo)致電池片中有此類缺陷的部分在EL測試過程中表現(xiàn)為發(fā)光強(qiáng)度較弱或不發(fā)光。

6. 電池片混擋

一塊組件的EL測試圖中有部分電池片發(fā)光強(qiáng)度與該組件中的大部分電池片相比較弱，這是由于這部分電池片的電流或電壓分檔與該組件中大部分電池片的電流或電壓分檔不一致造成的。

7. 燒結(jié)缺陷

在電池片生產(chǎn)過程中，燒結(jié)工序工藝參數(shù)不佳或燒結(jié)設(shè)備存在缺陷時，生產(chǎn)出來的電池片在EL測試過程中會顯示為大面積的履帶印。實(shí)際生產(chǎn)中通過有針對 性的工裝改造就可以有效的消除履帶印的問題。例如采用頂針式履帶生產(chǎn)出來的電池片在EL測試圖只能看到若干個黑點(diǎn)而沒有大面積的履帶印。

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